Вторично-ионная масс-спектроскопия кристаллов селенида цинка со спектральной памятью фотопроводимости

Проста сторінка матеріалу
dc.contributor.author Ковальов, Леонід Євгенійович
dc.date.accessioned 2016-11-05T14:33:53Z
dc.date.available 2016-11-05T14:33:53Z
dc.date.issued 2016
dc.description.abstract Методом вторично-ионной масс-спектроскопии был исследован примесный состав высокоомных кристаллов селенида цинка с фоновыми примесями. Предложен способ проведения масс-спектроскопического анализа высокоомных образцов. Проведённое исследование косвенно подтверждает гипотезу про то, что ответственным за возникновение всплеска фототока и явления «спектральной памяти» фотопроводимости ZnSe является примесь железа, неравномерно распределённая по объёму кристалла. uk_UA
dc.identifier.citation Беленчук А.В., Ильиных Н.И., Ковалёв Л.Е. Вторично-ионная масс-спектроскопия кристаллов селенида цинка со спектральной памятью фотопроводимости // Известия высших учебных заведений. Физика. 2016. Т. 59. № 10. С. 174-175. uk_UA
dc.identifier.issn 0021-3411
dc.identifier.uri http://lib.udau.edu.ua/handle/123456789/4364
dc.language.iso ru_RU uk_UA
dc.publisher Национальный исследовательский Томский государственный университет uk_UA
dc.subject селенид цинка uk_UA
dc.subject фотопроводимость uk_UA
dc.subject масс-спектроскопия uk_UA
dc.title Вторично-ионная масс-спектроскопия кристаллов селенида цинка со спектральной памятью фотопроводимости uk_UA
dc.type Стаття uk_UA
Файли
Вихідний пакет
Зараз показується 1 - 2 з 2
Немає доступних мініатюр
Ім'я:
Izvestiya_vuzov_10_2016.pdf
Розмір:
131.22 KB
Формат:
Adobe Portable Document Format
Опис:
Завантажити
Немає доступних мініатюр
Ім'я:
Tomsk_ZnSe_MS_Repozit.pdf
Розмір:
116.25 KB
Формат:
Adobe Portable Document Format
Опис:
Завантажити
Набір ліцензій
Зараз показується 1 - 1 з 1
Немає доступних мініатюр
Ім'я:
license.txt
Розмір:
7.14 KB
Формат:
Item-specific license agreed upon to submission
Опис:
Завантажити
Колекції
Кафедра математики та фізики