Вторично-ионная масс-спектроскопия кристаллов селенида цинка со спектральной памятью фотопроводимости
Вторично-ионная масс-спектроскопия кристаллов селенида цинка со спектральной памятью фотопроводимости
Немає доступних мініатюр
Дата
2016
Автори
Ковальов, Леонід Євгенійович
Назва журналу
ISSN журналу
Назва тома
Видавець
Национальный исследовательский Томский государственный университет
Інструкція
Методом вторично-ионной масс-спектроскопии был исследован примесный состав высокоомных кристаллов селенида цинка с фоновыми примесями. Предложен способ проведения масс-спектроскопического анализа высокоомных образцов. Проведённое исследование косвенно подтверждает гипотезу про то, что ответственным за возникновение всплеска фототока и явления «спектральной памяти» фотопроводимости ZnSe является примесь железа, неравномерно распределённая по объёму кристалла.
Опис
Ключові слова
селенид цинка,
фотопроводимость,
масс-спектроскопия
Бібліографічний опис
Беленчук А.В., Ильиных Н.И., Ковалёв Л.Е. Вторично-ионная масс-спектроскопия кристаллов селенида цинка со спектральной памятью фотопроводимости // Известия высших учебных заведений. Физика. 2016. Т. 59. № 10. С. 174-175.