Secondary Ion Mass Spectroscopy of Zinc Selenide Crystals with Photoconductivity Spectral Memory

dc.contributor.author Ковальов, Леонід Євгенійович
dc.date.accessioned 2017-02-15T13:32:55Z
dc.date.available 2017-02-15T13:32:55Z
dc.date.issued 2017
dc.description.abstract The main aim of this work was to study the composition of impurities in high-resistivity ZnSe samples possessing the phenomenon of spectral memory of the photoconductivity in order to detect traces of iron impurities by the method of secondary ion mass spectroscopy (SIMS). uk_UA
dc.identifier.citation Belenchuk, A.V., Ilyinykh, N.I. & Kovalev, L.E. Secondary Ion Mass Spectroscopy of Zinc Selenide Crystals with Photoconductivity Spectral Memory. Russ. Phys. J., Vol. 59, No. 10, 1718-1720 (2017) uk_UA
dc.identifier.issn 1064-8887; 1573-9228
dc.identifier.uri http://lib.udau.edu.ua/handle/123456789/5209
dc.language.iso en uk_UA
dc.publisher Springer US uk_UA
dc.subject zinc selenide uk_UA
dc.subject photoconductivity uk_UA
dc.subject mass spectroscopy uk_UA
dc.title Secondary Ion Mass Spectroscopy of Zinc Selenide Crystals with Photoconductivity Spectral Memory uk_UA
dc.type Стаття uk_UA
Файли
Вихідний пакет
Зараз показується 1 - 1 з 1
Немає доступних мініатюр
Ім'я:
SECONDARY_SP_new.pdf
Розмір:
101.47 KB
Формат:
Adobe Portable Document Format
Опис:
Набір ліцензій
Зараз показується 1 - 1 з 1
Немає доступних мініатюр
Ім'я:
license.txt
Розмір:
7.14 KB
Формат:
Item-specific license agreed upon to submission
Опис: